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CCD Smear现象

时间:2013-10-05来源:机器视觉网http://shixinhua.com 作者:石鑫华机器视觉网 点击:

CCD Smear现象

石鑫华机器视觉网:以FT型CCD为例,当电荷从感光区转移到存储区时(这个时间从几十us到数百us),感光区实际还在不停的感光,不停的产生电荷,他会污染已经存在的电荷,这种影响我们称为“smear效应”(漏光、弥散、拖尾现象)。如果要使这种影响最小,就必须让CCD的转移时间尽可能的短或者干脆在转移时用机械快门关断光路。如果转移时间一定,那么积分时间越短,这种影响越严重,为什么呢?积分时间越短,本身积累的电荷就越少,这样即使很少的污染电荷就会造称严重影响,反之,如果积分时间比较长,自身的电荷很多,那么同样数量的污染电荷的影响也就微不足道了。
另一方面,当强光照射在CCD传感器上,由于光斜射,工艺结构等原因,光生电荷可能被邻近的存储区所捕获。他导致一个随机的扩散过程,使电荷跑到了存储区(IT型最明显)。波长越长的光会进入传感器越深,这导致了更严重的smear效应。
下面就是实际拍摄的一副图像的smear影响:
漏光现象
漏光现象
 
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