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机器视觉检测之晶片划痕缺陷外观检测

时间:2014-06-20来源:机器视觉网http://shixinhua.com 作者:石鑫华机器视觉网 点击:

机器视觉检测之晶片划痕缺陷外观检测

机器视觉检测之晶片划痕缺陷外观检测
机器视觉检测项目之晶片划痕缺陷外观检测
东莞华视自动化科技有限公司-石鑫华视觉网:如上图示,为一种半透明磨砂玻璃晶片。这类产品主要需要检测其表面的划痕、灰点、污渍以及晶片的破损等缺陷,基本上都属于外观检测。当然也可以做尺寸测量,这种相对来讲,要好完成许多,这里就不讨论了。
 
这种产品主要还是机器视觉光源打光上比较难摆平。首先是产品表面是磨砂的,这会给表面的均匀性带来一定的影响,类似于随机引入了许多的椒盐噪声。因此能够将这些表面的磨砂现象打掉,是光源的一个挑战。另外产品表面的缺陷有许多种,划痕、污渍、灰尘、破损等,需要考虑在同一光源系统环境下,能够把这些问题尽可能多的解决掉。第三,像划痕这类缺陷,通常可以考虑使用掠射或同轴照明的方法来表现缺陷,因此表现阁表面的划痕,相对于灰尘、污渍可能要困难许多。因此,可以尝试使用低角度环形光源进行照明,或者使用条形光源、线光源、同轴光源等进行照明。
 
工业相机的选择上,主要的CCDCMOS摄像头可以满足测量要求即可。如果说测量精度不够,那么就需要提高相机的倍率,或者缩小产品的视野。这类产品一般来讲,视野比较小,主流的工业相机,倍率应该都是够的。
 
工业镜头最好是能选择分辨率高、畸变小的镜头,这样可以有更细致的细节表现。
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